光學(xué)缺陷檢測(cè)設(shè)備——WSD系列

WSD系列產(chǎn)品是睿勵(lì)科學(xué)儀器(上海)有限公司自主研發(fā)、生產(chǎn)的全自動(dòng)晶圓外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備。設(shè)備的基本檢測(cè)原理是利用光學(xué)系統(tǒng)成像、通過圖像分析的方式來捕抓并分類各種晶圓表面的缺陷。
該系列產(chǎn)品包括WSD200、WSD300、WSD220、WSD320等多型號(hào)產(chǎn)品，適用于集成電路制造、化合物半導(dǎo)體等領(lǐng)域。

主要特點(diǎn)：

l?支持6/8/12吋wafer
l?可定制化兼容Frame產(chǎn)品
l?支持透明/非透明襯底片檢測(cè)
l?可檢測(cè)缺陷類型:顆粒、污染、圖形缺少、劃傷、圖形黏連、殘留等
l?具備晶圓全表面檢測(cè)、自動(dòng)缺陷檢測(cè)分類以及高分辨率的缺陷復(fù)查功能